Informatics Point
Информатика и проектирование
Для свч диапазона сверхузкие диаграммы направленности проектируют в относительно редких специальных случаях. В системах оптического диапазона, как правило, сверхузкими диаграммами будут обладать большинство систем. Поэтому в данной главе рассматривается задача оценки среднего времени вхождения в связь двух объектов, снабженных системами сканирования узких лучей ОКГ и соответствующими приемниками. Однако в типичных случаях применения ОКГ на предельных дальностях число фотонов в принимаемом сигнале может быть невелико, поэтому использование отношения сигнал/шум является недостаточным для характеристики системы с точки зрения обнаружения полезного сигнала и подавления шумов. Необходимо вводить такие характеристики качества системы, как вероятность обнаружения сигнала, вероятность пропуска сигнала, вероятность ложной тревоги. Эти характеристики хорошо связываются с дальностью действия системы и с мощностью передающих устройств. Поэтому среднее время вхождения в связь для различных вариантов систем целесообразно находить в зависимости от вероятности обнаружения сигнала, от дальности действия системы при различных вероятностях ложной тревоги (.характеризуемой уровнем шума) и мощности передатчиков. С этой точки зрения проводится дальнейшее рассмотрение.
В настоящее время наибольшее распространение получили системы регулярного и случайного поиска. В свою очередь, системы регулярного поиска по характеру поиска можно также разделить на системы:
без сканирования,
со сканированием на одном объекте,
со сканированием на обоих объектах.
Технология изготовления электронно-лучевой трубки
Фокусирующая
система может быть линзовой или зеркальной. Линзовые системы имеют сферическую
аберрацию значительно, большую, чем зеркальные, но первые ко ...
Практическая реализация универсального программно-аппаратного лабораторного комплекса автоматизации измерений
Возрастание
количества измерений, нарастание сложности аппаратуры, повышение требований к
точности, расширение использования математических методов обработк ...
Структура металл-диэлектрик-полупроводник
В
МДП-транзисторе с поликремниевым затвором n-типа
нужно рассчитать пороговое напряжение и построить диаграмму зависимости
порогового
Напряжения
от кон ...
Меню сайта
2026 © www.informaticspoint.ru